Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder.
نوع المادة :
نصتفاصيل النشر: [Piscataway, NJ] : IEEE Press ; Hoboken, N.J. : Wiley, c2006.الطبعة: 3rd edالوصف: xv, 779 p. : ill. ; 25 cmردمك: - 0471739065 (acidfree paper)
- 9780471739067
- 621.3815/2 22 SDS
- QC611 .S335 2006
كتاب
مراجعات من LibraryThing.com:
| المكتبة الحالية | رقم الاستدعاء | حالة | الباركود | |
|---|---|---|---|---|
| المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) | 621.3815/2 SDS (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00652193 | |
| المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) | 621.3815/2 SDS (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00652194 | |
| المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) | 621.3815/2 SDS (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00652195 | |
| مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) | 621.3815/2 SDS (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00652196 | |
| مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) | 621.3815/2 SDS (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00652197 |
إجمالي الحجوزات: 0
"Wiley-Interscience."
Includes bibliographical references and index.
لا توجد تعليقات على هذا العنوان.
تسجيل الدخول إلى حسابك لنشر تعليق.
