Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman.
نوع المادة :
نصتفاصيل النشر: New York : IEEE Press, [1994], c1990.الطبعة: Rev. printالوصف: xviii, 652 p. : ill. ; 27 cmردمك: - 0780310624
- 22 621.3815 AMD
- TK7874 .A23 1990b
كتاب
مراجعات من LibraryThing.com:
| المكتبة الحالية | رقم الاستدعاء | حالة | الباركود | |
|---|---|---|---|---|
| المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) | 621.3815 AMD (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00651135 | |
| المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) | 621.3815 AMD (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00651136 | |
| المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) | 621.3815 AMD (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00651137 | |
| مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) | 621.3815 AMD (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00651138 | |
| مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) | 621.3815 AMD (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00651139 | |
| مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) | 621.3815 AMD (استعراض الرف(يفتح أدناه)) | المتاح | 00651140 |
إجمالي الحجوزات: 0
استعرض المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) رفاً إغلاق مستعرض الرف (يخفي مستعرض الرف)
| لا توجد صورة غلاف متاحة | لا توجد صورة غلاف متاحة | لا توجد صورة غلاف متاحة | ||||||
| 621.381330288 إ س ك كشف وإصلاح أعطال الأجهزة الإلكترونية / | 621.381330288 إ س ك كشف وإصلاح أعطال الأجهزة الإلكترونية / | 621.381330288 إ س ك كشف وإصلاح أعطال الأجهزة الإلكترونية / | 621.3815 AMD Digital systems testing and testable design / | 621.3815 AMD Digital systems testing and testable design / | 621.3815 AMD Digital systems testing and testable design / | 621.3815 ANC Analog circuits / |
Includes bibliographical references and index.
لا توجد تعليقات على هذا العنوان.
تسجيل الدخول إلى حسابك لنشر تعليق.