عرض عادي
عرض مارك
- Integrated circuits
مدخل مصطلح موضوعي
001 - رقم الضبط
- حقل الضبط: 39529
003 - معرف رقم الضبط
- حقل الضبط: OSt
005 - تاريخ ووقت أخر عملية
- حقل الضبط: 20131112194914.0
008 - عناصر بيانات ثابتة الطول
- حقل تحكم ثابت الطول: 131112|||a|||||| | ||| d
040 ## - مصدر الفهرسة
- هيئة الفهرسة الأصلية: OSt
- وكالة الكتابة: OSt
150 ## - مدخل-- مصطلح تاريخي
- عنصر مدخل المصطلح الموضوعي او الاسم الجغرافي: Integrated circuits
- تفريع عام: Very large scale integration
- تفريع عام: Testing.
670 ## - بيانات المصدر موجوده
- الاستشهاد بالمصدر: Work cat.: (OSt)0: Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- 39527, Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /, c2000.