Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / (رقم التسجيلة. 31961)

تفاصيل مارك
000 -الفاتح
حقل البيانات ثابتة الطول 01554cam a22003374a 4500
001 - رقم الضبط
رقم الضبط 12158086
003 - محدد رقم الضبط
رقم الضبط OSt
005 - وقت وتاريخ اخر تعامل مع التسجيلة
رقم الضبط 20150408114150.0
008 - عناصر البيانات ثابتة الطول - معلومات عامة
حقل البيانات ثابتة الطول 000829s2000 maua b 001 0 eng
010 ## - رقم ضبط مكتبة الكونجرس
رقم ضبط مكتبة الكونجرس 00046212
020 ## - الرقم الدولى المعيارى للكتب
الرقم الدولى المعيارى للكتاب 0792379918 (alk. paper)
040 ## - مصدر الفهرسة
وكالة الفهرسة الأصلية DLC
وكالة النسخ DLC
وكالة التعديل DLC
042 ## - رمز التحقق
رمز التحقق pcc
050 00 - رقم طلب مكتبة الكونجرس
رقم التصنيف TK7874.75
رقم المادة .B87 2000
082 00 - رقم تصنيف ديوى العشرى
رقم التصنيف 621.39/5
رقم الطبعة 21
رقم المادة BME
100 1# - المدخل الرئيسى - إسم شخصى
الإسم الشخصى Bushnell, Michael L.
الشكل الأكمل للاسم (Michael Lee),
التواريخ المصاحبة للاسم 1950-
9 (RLIN) 39527
245 10 - بيان العنوان
العنوان Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
بيان المسئوليه,etc Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal.
260 ## - PUBLICATION, DISTRIBUTION, ETC. (IMPRINT)
مكان الناشر او الموزع Boston :
اسم الناشر او الموزع Kluwer Academic,
تاريخ النشر أو التوزيع c2000.
300 ## - الوصف المادى
التعداد xviii, 690 p. :
تفاصيل ماديه اخرى للوعاء ill. ;
أبعاد الوعاء 26 cm.
440 #0 - بيان السلسلة/مدخل إضافى-العنوان
العنوان Frontiers in electronic testing ;
رقم المجلد/ التعيين التسلسلي 17
9 (RLIN) 39528
504 ## - تبصرة ببليوجرافية
تبصرة ببليوجرافية,الخ Includes bibliographical references (p. [631]-670) and index.
650 #0 - المدخل الاضافى بالموضوع-مصطلح موضوعى
مصطلح موضوعي أو اسم جغرافي كعنصر مدخل Integrated circuits
التقسيم الفرعي العام Very large scale integration
-- Testing.
9 (RLIN) 39529
650 #0 - المدخل الاضافى بالموضوع-مصطلح موضوعى
مصطلح موضوعي أو اسم جغرافي كعنصر مدخل Digital integrated circuits
التقسيم الفرعي العام Testing.
9 (RLIN) 39463
650 #0 - المدخل الاضافى بالموضوع-مصطلح موضوعى
مصطلح موضوعي أو اسم جغرافي كعنصر مدخل Mixed signal circuits
التقسيم الفرعي العام Testing.
9 (RLIN) 39530
650 #0 - المدخل الاضافى بالموضوع-مصطلح موضوعى
مصطلح موضوعي أو اسم جغرافي كعنصر مدخل Semiconductor storage devices
التقسيم الفرعي العام Testing.
9 (RLIN) 39531
700 1# - المدخل الاضافى - اسم شخصى
الإسم الشخصى Agrawal, Vishwani D.,
التواريخ المصاحبة للاسم 1943-
9 (RLIN) 39532
856 41 - الوصول و الموقع الالكترونى
مواد محددة Table of contents only
معرف المصدر الموحد <a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/00046212-t.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/00046212-t.html</a>
906 ## - عنصر بيانات محلى F, LDF (RLIN)
a 7
b cbc
c orignew
d 1
e ocip
f 20
g y-gencatlg
942 ## - عناصر المدخل الإضافي( كوها)
مصدر التصنيف او مخطط الترفيف Dewey Decimal Classification
Koha [default] item type DVD
المقتنيات
حالة الفقد نموذج السعر الفعال حالة تلف ليس للاعارة رقم الطلب تاريخ الاكتساب الموقع الحالي الباركود الفرع الرئيسي Date last seen نوع المادة فى نظام كوها مصدر التصنيف او خطة الترفيف Total Checkouts
  2013-11-12     621.39/5 BME 2013-11-12 المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) 00651394 المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) 2013-11-12 كتاب Dewey Decimal Classification  
  2013-11-12     621.39/5 BME 2013-11-12 المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) 00651395 المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) 2013-11-12 كتاب Dewey Decimal Classification  
  2013-11-12     621.39/5 BME 2013-11-12 المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) 00651396 المكتبة المركزية بالمجمعة (CL) 2013-11-12 كتاب Dewey Decimal Classification  
  2013-11-12     621.39/5 BME 2013-11-12 مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) 00651397 مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) 2013-11-12 كتاب Dewey Decimal Classification  
  2013-11-12     621.39/5 BME 2013-11-12 مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) 00651398 مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) 2013-11-12 كتاب Dewey Decimal Classification  
  2013-11-12     621.39/5 BME 2013-11-12 مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) 00651399 مكتبة مجمع الكليات بالزلفى - طلاب (SZM) 2013-11-12 كتاب Dewey Decimal Classification